Навчальний посібник присвячено опису основ традиційних і сучасних методів рентгеноструктурного аналізу в матеріалознавстві. Метою авторів було поєднання в навчальному посібнику розумної фундаментальності і практичних методів вирішення конкретних науководослідних та інженерно-технічних матеріалознавчих задач. У міру можливості автори намагалися показати ясність і очевидність фізичних явищ, які лежать в основі рентгеноструктурних методів. Навчальний посібник розроблено для студентів спеціальностей: «Матеріалознавство порошкових композитів і покриттів», «Нанотехнології і комп’ютерний дизайн матеріалів» та «Порошкова металургія», які бажають освоїти сучасні методи рентгеноструктурного аналізу, вивчити основи взаємодії рентгенівського випромінювання з речовиною і отримати повне уявлення як про можливості рентгеноструктурного аналізу, так і про методи обчислення X-ray програм повнопрофільного аналізу методом Рітвельда.

Посібник може бути корисним викладачам при розробці курсів лекцій для спеціалістів та магістрантів кафедр матеріалознавства і фізики.