Як парость виноградної лози, плекайте мову 👉 UA
Главная
Серия книг
Серия книг

Серия книг – IEEE Press Series on Microelectronic Systems

1 товар
Элвин В. Стронг
Очистить все
1 товар
Бумажная книга «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies», авторов Элвин В. Стронг, Эрнест Ю. Ву, Джузеппе Ла Роза, Джорди Суне, Рольф-Петер Фоллертсен, Стюарт Э. Раух, Тимоти Д. Салливан – фото №1
0
0
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Элвин В. Стронг Элвин В. Стронг, Эрнест Ю. Ву, Джузеппе Ла Роза, Джорди Суне, Рольф-Петер Фоллертсен, Стюарт Э. Раух, Тимоти Д. Салливан
Нет в наличии